Cordouan VASCO KIN 原位纳米粒度分析仪
品牌: Cordouan
型号: VASCO KIN
产地: 法国
| 光学头技术参数 | |
|---|---|
| 测量原理 | 光纤动态光散射 (DLS) |
| 样品量 (µL) | 低至 8 µL（因样品池而异） |
| 测量配置 | 原位测量——非接触式远程探头/用户自定义 |
| 样品池类型 | 标准的一次性样品池、µL 级一次性样品池、Quartz Suprazil 标准样品池等 |
| 溶剂相容性 | 水溶剂和有机溶剂（因样品池而异） |
| 散射角 (°) | 170° |
| 粒度范围 | 0.5 nm 至 10 µm（因样品而异） |
| 浓度范围 | 最高 40%（重量百分比）（因样品而异） |
| 尺寸/重量 | 50 mm x 25 mm x 120 mm（高 x 宽 x 深） /<0.5 kg |
| 硬件技术参数（中央处理单元） | |
| 激光光源 | 高稳定性固体激光器（可选择蓝色和绿色） |
| 探测器 | 无伪影的雪崩光电二极管 (APD) |
| 计算机 | 嵌入式专用 PC |
| 数据处理 | 相关处理和分析软件：NanoKin® 软件 |
| 时间分辨率 | 最高 200 ms（因样品和测量方法而异） |
| 测量时间 | 2 s 至 12 h |
| 操作条件/储存条件 | 15°C 至 40°C / -10°C 至 50°C——相对湿度 < 70%，无冷凝 |
| 尺寸/重量 | 220 mm x 220 mm x 64 mm（上部） / 2.5 kg 220 mm x 220 mm x 48 mm（下部） / 2.8 kg |
| 系统合规性 | |
| CE 认证 | CE 认证产品——3b 类激光产品 – EN 60825-1:2001，CDRH |
| 标准化 | 符合 ISO 13321 (1996) 和 ISO 22412 (2008) 标准以及《美国联邦法典》第 21 卷第 11 部分电子数据签名管理（可选） |
稳频激光器和无伪影的雪崩光电二极管 (APD) 探测器
→ 测量精度高，可分辨低至0.5 nm的颗粒
→ 样品散射度极低
· 嵌入式专用 PC，包括软件相关处理和全套专用软件 NanoKin®
→ 用户友好的操作界面
→ 储存原始光强频率数据用于时间分辨分析和后续分析
→ 包括动力学分析结果在内的完整报告
· 增强型数学模型
→ 更可靠的结果
→ 粒度分布随时间变化的二维伪彩图
主要技术参数
·测量原理：光纤动态光散射 (DLS)
·测量配置：原位/非接触式远程探头
·粒度范围：0.5 nm 至 10 µm*
·浓度范围：最高 40%（重量百分比）*
·测量时间：2 秒 至 12 小时
·时间分辨率：最高 200 毫秒
·占地面积小，无可移动部件，易于集成到恶劣环境中
·因样品而异
可更换的测量探头
原位测量探头特点
·原位非接触式测量：无污染风险
·兼具耐用性和紧凑性：易于集成到空间受限的环境中
·嵌入式可见激光校准光束：安装方便，精准定位
·工作距离/散射角可调节
·节省成本和时间：无需耗材，免去繁琐的批量取样
应用
·原位过程监控
·与其他仪器耦合
高浓度测量头
特点
·基于双重厚度控制 (DTC) 技术
·适用于高浓度和/或深色悬浮液（油墨、乳剂、原油等）
·无需耗材
·可选配高浓度在线测量流样池
·能够在密闭环境（手套式操作箱）中工作
应用
·受控环境中的测量
·常规实验室测量
高精度温控测量探头
特点
·温度范围宽：5°C 至 80°C；± 0.05°C
·体积小巧：能够在密闭环境（手套式操作箱）中工作
·与标准 10×10 mm2 比色皿（一次性或 QS）兼容
·无交叉污染，取样方便
·可选配荧光滤光片
·可选配各种比色皿：一次性比色皿、玻璃比色皿、微型比色皿、流动比色皿……
应用
·批量取样测量
·常规实验室测量